1.肉眼調查法

　　儀(yi) 器表麵的問題，用肉眼是能看到的，假定是內(nei) 部元件的問題，一般損壞了的元件會(hui) 變色.起泡或出現斑駁，還或許會(hui) 特殊的氣味，短路的芯片會(hui) 發燙。

　　2.缺陷狀況調整法

　　關(guan) 於(yu) 有毒RAYBET雷下载，一般狀況下，在缺陷未確定前，不要隨意牽動電路中的元器材，特別是可調整式器材，如電位器等。

　　3.敲擊法

　　使用者經常會(hui) 遇到儀(yi) 器運行時好時壞的狀況，大多數是因為(wei) 接觸不良或虛焊構成。關(guan) 於(yu) 這種狀況能夠選用敲擊法。

　　所謂的“敲擊”便是對或許發生缺陷的部位，通過手或其他物品悄然擊打插件板或部件，看是否會(hui) 引起犯錯或停機缺陷，假定發現擊打後恢複正常，再擊打又不正常，即關(guan) 上電源將一切插頭部位從(cong) 頭插牢，再開機看是否會(hui) 消除缺陷。

　　4.隔絕打掃法

　　根據缺陷檢測流程圖，拔插機內(nei) 一些插件板.器材來判斷缺陷，逐漸縮小查找規劃，再合作信號比照.部件溝通等辦法，一般會(hui) 很快查到缺陷地點。

　　5.替換法

　　要求有兩(liang) 台同類型的儀(yi) 器或有滿意的備件。將一個(ge) 好的備件與(yu) 缺陷機上的同一元器材進行替換，看缺陷是否消除。

　　6.並聯法

　　把一塊好的IC芯片安在要查看的芯片之上，或許把好的元器材與(yu) 要查看的元器材並聯，堅持出色接觸，假定缺陷出自於(yu) 器材內(nei) 部開路或接觸不良等原因，則選用這種辦法能夠打掃。

　　7.降溫法

　　有時，表麵工作較長時間，或環境溫度較高時就會(hui) 出現缺陷，放一會(hui) 兒(er) 再用又是好的。這種現象是因為(wei) 單個(ge) IC或元器材功用差，高溫特性參數達不到方針要求所構成的。為(wei) 了找出缺陷原因，可選用降溫法。

　　所謂降溫，便是在缺陷出現時，用棉纖將無水酒精在或許出缺陷的部位抹擦，使其降溫，調查缺陷是否消除。